微(wei)電(dian)極(ji)拉制儀性能(neng)指標(biao)，濕(shi)度(du)控(kong)制室，程控(kong)氣(qi)壓(ya)，可(ke)存貯(zhu)多達100個程序(xu)。寫保護鎖和(he)日(ri)期封印，每(mei)次拉制都產生(sheng)兩個對(dui)稱(cheng)的電(dian)極(ji)，為(wei)胞內記(ji)錄和(he)膜(mo)片(pian)鉗(qian)電(dian)極(ji)設計(ji)的(de)例(li)子程(cheng)序(xu)可(ke)以修(xiu)改(gai)，可(ke)對(dui)特(te)殊需(xu)求進行(xing)編(bian)程。Ramp檢測(ce)--當使用新(xin)燈絲或新玻璃時(shi)能(neng)對(dui)加(jia)熱設置進(jin)行(xing)自(zi)檢驗(yan)。為燈絲和(he)拉制螺線管提供恒流電源(yuan)。為(wei)拉制膜(mo)片(pian)鉗(qian)用(yong)電(dian)極設計(ji)的(de)循(xun)環周(zhou)期拉制。真空熒光(guang)顯示。自(zi)帶的(de)供氣(qi)裝(zhuang)置有(you)濕(shi)度(du)控(kong)制和過濾(lv)系統。能拉制穩定(ding)、可(ke)靠的小(xiao)於0.1微(wei)米的電極(ji)。能控(kong)制空氣(qi)釋(shi)放的(de)時(shi)間(jian)和壓(ya)力。內(nei)部(bu)存儲器檢驗(yan)。優(you)化的(de)速度(du)檢測(ce)回路(lu)有(you)大的(de)敏(min)感度和(he)重復(fu)性。質量(liang)控制：電鏡檢測(ce)電極(ji)變化小(xiao)於0.1微(wei)米，壹般大約(yue)為(wei)0.06微(wei)米。